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不銹鋼中不同材料的區(qū)分示例分析
該設(shè)備由高壓發(fā)生器、分光頭、計數(shù)電路、使用液晶觸摸屏的CPU系統(tǒng)和樣品室組成。X 射線源是一種節(jié)能風冷緊湊型 X 射線管。分光頭由雙曲面環(huán)形LiF和毛細管組成，具有可在CPU控制下更換每個激發(fā)源的結(jié)構(gòu)。光譜頭和樣品室由4μm厚的聚合物膜隔板隔開，頭內(nèi)部保持數(shù)Pa的真空，樣品置于空氣中。結(jié)果，減少了由空氣引起的散射輻射，并且可以容易地進行測量。X射線探測器采用高分辨率硅漂移探測器（SDD），無需液氮，計數(shù)率高。探測器元件采用兩級珀耳帖元件冷卻，冷卻溫度控制在-20±0.5℃。計數(shù)電路使用緊湊型數(shù)字信號處理器 (DSP)。CPU部分采用液晶觸摸屏，無需安裝空間，操作簡單。為了用環(huán)形單色儀對初級 X 射線 Pd-Kα 射線進行單色化和聚焦，需要以良好的激發(fā)效率和良好的 P/B 比分析過渡金屬、Mo 和 Pb 等。
X射線管：風冷鈀靶
kV-mA：40-1（Pd-Kα單色光束）
測量時間：100秒
檢測器：SDD（元件冷卻：-20°C，Mn-Kα射線能量分辨率：160 eV以下）
在鋼種鑒別的情況下，由于樣品測量表面并不總是平坦的，因此通過取樣品的一次 X 射線與散射 X 射線的比率進行校正。首先分析鑄錠標準樣品的平面。Cr-Kα線、Ni-Kα線和Mo-Kα線用于測量光譜。圖1-1為各光譜線的校準曲線與散射X射線的比值校準曲線。兩條校準曲線獲得了幾乎相同的結(jié)果。圖1-2顯示了樣品圓柱面（側(cè)面，直徑約40mmφ）的測量結(jié)果，結(jié)果與平面幾乎相同。接下來，1-3 顯示了使用 Cr-Kα 和 Mo-Kα 射線研究距離特性的結(jié)果。X 射線分析值在距參考物 1、2 和 3 mm 距離處與散射 X 射線的強度比相比，Cr 的最大誤差為 1.41wt%，Mo 的最大誤差為 0.06wt%位置。Cr 和 Mo 的檢測下限分別為 0.0063wt% 和 0.0009wt%。
由以上結(jié)果可知，通過使用OURSTEX100F獲取散射X射線的強度比，能夠以充分的精度獲得鋼種判別。這被認為是由于環(huán)形光譜儀將來自 X 射線管的初級 X 射線會聚到樣品表面上 2-3 mmφ 的效果。預計該緊湊型裝置將在未來有效地用作簡單鋼型鑒別的異物鑒別裝置。
能量色散X射線熒光光譜儀“OURSTEX100FA"
