鐵金屬材料的非磁性薄膜厚度測量技術

發布日期：2022-04-26      瀏覽次數：979

鐵金屬材料的非磁性薄膜厚度測量技術

便攜式膜厚儀QNIx系列的特點

無需薄膜校準即可進行精確的薄膜厚度測量

出廠時輸入 16 點校準數據即可交付。
這消除了繁瑣的薄膜校準工作，并實現了精確的薄膜厚度測量。

薄膜厚度測量數據傳輸新技術

在傳統的測量儀器中，測量數據是通過用電纜連接儀器主體和個人計算機來傳輸的。QNIx 系列使用，只需將其插入 USB 端口即可進行傳輸。可以更快、更輕松地查看測量數據。

超輕量無線測量儀

探頭測量的數據以無線方式傳輸到主機。與傳統產品一樣，它還降低了被電纜卡住、擋路和導致墜落事故的風險。此外，探頭重 30 克，超輕巧，因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。

不易折斷且在被測物體上無痕跡的探頭

QNIx 系列探頭采用增強塑料包圍，可將耐用性提高 30%。即使發生故障，也很容易拆卸和維修，因此縮短了維修周期。此外，附有紅寶石前端，因此可以安全地進行測量，而不會損壞待測物體（樣品）。

QNIx系列比較規格表

	QNIx 8500	QNIX 4500/4200	QNIx 7500	QNIX 驗車 系統	QNIX Handy
可測量薄膜	[F] 鐵材料上的非磁性涂層 [N] 非鐵材料上的非磁性涂層 [FN] 鐵/非鐵材料上的非磁性/非導電涂層。			[FN]鐵和非鐵材料上的非磁性、非導電涂層。	[FN]鐵鋁材料上 的非磁性非導電 膜厚
材料識別	鐵和非鐵材料的 自動識別交換	鐵和非鐵材料的自動識別交換	用戶規定的轉換	鐵和非鐵材料的 自動識別交換	鐵/非鐵，自動 識別模式轉換
測量原理	[F] 磁通量（霍爾效應） [N] 渦流
測量范圍	0 至 2,000 μm （選項：5,000 μm）	0 ~ 3,000 微米	0 至 2,000 μm （選項：5,000 μm）	0 ~ 5,000 微米	0～500微米
分辨率	0.1 μm、1 μm [M] 0.01 μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0點校正 用戶校準：1 [M]100個	0點校正	0點校正	無校準功能	無校準功能
準確性	± (1 μm + 2%) ± 3.5% (2 mm 或更大) [T] ± (0.3 μm + 2%)	± (2 微米 + 3%)	± (1 微米 + 3%)	± (1 μm + 2%) ± 3.5% (2 mm 或更大)	± (10 微米 + 5%)
測量速度	(約40次/分鐘) [T] 920ms (約65次/分鐘) [R] 1,600ms	600ms（約70次/分鐘）	1,300ms（約46次/分鐘）	1,500ms（約40次/分鐘）	600ms（約100次/分鐘）